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安規(guī)非正常工作，電子元件模擬短路試驗(yàn)是在產(chǎn)品通電前還是通電后？

發(fā)表時(shí)間:2023-07-08 16:06:34

案例問(wèn)題

依據(jù)GB?4706.1-2005《家用和類似用途電器的安全第1部分：通用要求》標(biāo)準(zhǔn)19.11.2條款非集成電子元件要模擬短路故障，具體試驗(yàn)操作是產(chǎn)品通電前還是通電后短路電子元件?

案例分析

根據(jù)筆者的實(shí)踐，“先短路元件再上電”和“先上電啟動(dòng)產(chǎn)品后再短路元件”兩種試驗(yàn)方法可能出現(xiàn)不同的效果。

例如某多士爐，電氣原理圖如圖1所示。

圖1 多士爐電氣原理圖

正常工作情況，VCC 5V通過(guò)R18||NTC、VR||R9,R7給電容C3充電，IC6腳OSC是輸入input也是輸出output腳，IC6腳周期性給C3放電，形成振蕩波形信號(hào)，如圖2所示，供IC內(nèi)部使用。

圖2 IC芯片6腳電壓波形（C3上電壓）

（實(shí)拍圖）

如果電容C3模擬短路試驗(yàn)是先短路C3再通電，手動(dòng)按下多士爐按鍵松手即自動(dòng)彈起，非正常試驗(yàn)沒(méi)有明顯的溫升和其他異常，結(jié)果合格；反之，如果是預(yù)先C3兩端引出導(dǎo)線，多士爐通電工作啟動(dòng)后再短路電容C3，IC失去振蕩輸入，定時(shí)“中止”在某一時(shí)間點(diǎn)，導(dǎo)致多士爐一直工作，非正常試驗(yàn)溫升較高，外殼軟化變形露出帶電部件，結(jié)果不合格。

根據(jù)GB?4706.1-2005標(biāo)準(zhǔn)第5章中“最不利的原則”，可以選最不利的時(shí)間點(diǎn)引入“短路”故障。

較新版本的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC 60335-1:2016 Ed5.2《家用和類似用途電器的安全第1部分：通用要求》19.11.3條款規(guī)定，19.11.2電子元件模擬失效可以在啟動(dòng)器具前和啟動(dòng)器具后任意時(shí)間點(diǎn)模擬故障。

標(biāo)準(zhǔn)要求

GB 4706.1-2005《家用和類似用途電器的安全第1部分：通用要求》標(biāo)準(zhǔn)

19.11.2 要考慮下列的故障情況，而且如有必要，要每次施加一個(gè)故障，并考慮隨之發(fā)生的間接故障。

a) 如果電氣間隙和爬電距離小于第29章中的規(guī)定值，則功能性絕緣短路；

b) 任何元件接線端處開(kāi)路；

c）電容器的短路，符合GB/T 14472(idt IEC 60384-14）的電容器除外；

d) 非集成電路電子元件的任何兩個(gè)接線端處的短路，該故障情況不施加在光藕合器的兩個(gè)電路之間；

e）三端雙向可控硅開(kāi)關(guān)元件以二極管方式失效；

f) 集成電路的失效。要考慮集成電路故障條件下所有可能的輸出信號(hào)。如果能表明不可能產(chǎn)生一個(gè)特殊的信號(hào)，則其有關(guān)的故障可不考慮。

注 1：如可控硅整流器和三端雙向可控硅開(kāi)關(guān)元件那樣的元件，不經(jīng)受f)故障情況。

注 2：微處理器按集成電路進(jìn)行試驗(yàn)。

如果電路不能用其他方法評(píng)估，故障情況 f)施加到封裝的和類似的元件。

……

19. 13 在試驗(yàn)期間，器具不應(yīng)噴射出火焰、熔融金屬、達(dá)到危險(xiǎn)量的有毒性或可點(diǎn)燃的氣體，且其溫升不應(yīng)超過(guò)表9中的規(guī)定值。

……

IEC 60335-1:2016 Ed5.2《家用和類似用途電器的安全第1部分：通用要求》標(biāo)準(zhǔn)

19.11.3 ……

A fault as indicated in a) to g) of 19.11.2 shall be incorporated in the protective electronic circuit either before the appliance is started or at any point in time after the appliance is started so that the most unfavourable conditions of the test are applied.

參考譯文：

19.11.2中a）至g）所述的故障應(yīng)在器具啟動(dòng)前或器具啟動(dòng)后的任何時(shí)間點(diǎn)引入保護(hù)電子電路中，以便施加最不利的試驗(yàn)條件。

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