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電子元器件的二次篩選是指在元器件廠家初步篩選的基礎(chǔ)上，由使用方或其委托的第三方對(duì)電子元器件進(jìn)行的進(jìn)一步篩選。二次篩選旨在通過(guò)一系列有針對(duì)性的試驗(yàn)，有效剔除早期失效的元器件。本文將介紹電子元器件的二次篩選原則以及常見的篩選項(xiàng)目。

電子元器件的二次篩選原則

1. 有效剔除早期失效產(chǎn)品：篩選的目的是排除早期失效的元器件，但不應(yīng)導(dǎo)致正常產(chǎn)品的失效率增加。

2. 強(qiáng)應(yīng)力篩選：為了提高篩選效率，可以施加強(qiáng)應(yīng)力，但應(yīng)避免引入新的失效模式。

3. 最佳應(yīng)力順序：合理選擇能暴露失效的最佳應(yīng)力順序。

4. 掌握失效模式：了解被篩選元器件的可能失效模式是篩選成功的關(guān)鍵。

5. 了解元器件特性：制定合理的篩選方案需要對(duì)元器件的特性、材料、封裝及制造技術(shù)有深入了解。

常見的電子元器件篩選項(xiàng)目

1. 高溫貯存

高溫貯存測(cè)試?yán)脺囟壬呒铀倩瘜W(xué)反應(yīng)的特性，加速元器件的失效過(guò)程，從而及時(shí)暴露有缺陷的元器件。此方法在半導(dǎo)體器件上廣泛應(yīng)用，可以有效剔除表面污染、鍵合不良、氧化層缺陷等問(wèn)題。通常在最高結(jié)溫下貯存24至168小時(shí)。高溫貯存不僅簡(jiǎn)單易行且費(fèi)用不高，適用于許多元器件。通過(guò)高溫貯存后，還能使元器件的參數(shù)性能更加穩(wěn)定，減少使用中的參數(shù)漂移。

2. 功率電老煉

功率電老煉在熱電應(yīng)力的共同作用下，可以很好地暴露元器件內(nèi)外的多種潛在缺陷，是可靠性篩選的重要手段。功率老煉需要專門的試驗(yàn)設(shè)備，費(fèi)用較高，因此篩選時(shí)間不宜過(guò)長(zhǎng)。民用產(chǎn)品通常為幾個(gè)小時(shí)，軍用高可靠產(chǎn)品為100至168小時(shí)，宇航級(jí)元器件可以選擇240小時(shí)甚至更長(zhǎng)的周期。

3. 溫度循環(huán)

溫度循環(huán)測(cè)試?yán)脴O端高溫和低溫之間的熱脹冷縮應(yīng)力，篩選出熱匹配性能差的元器件。電子產(chǎn)品在使用過(guò)程中會(huì)遇到不同的環(huán)境溫度條件，在熱脹冷縮的應(yīng)力作用下，性能較差的元器件容易失效。溫度循環(huán)篩選能有效剔除具有熱性能缺陷的產(chǎn)品。

4. 離心加速度

離心加速度試驗(yàn)又稱恒定應(yīng)力加速度試驗(yàn)。通過(guò)高速旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的離心力作用于元器件上，可以剔除鍵合強(qiáng)度弱、內(nèi)引線匹配不良和裝架不良的元器件。這項(xiàng)篩選通常在半導(dǎo)體器件上進(jìn)行。

5. 監(jiān)控振動(dòng)和沖擊

監(jiān)控振動(dòng)和沖擊試驗(yàn)在對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行振動(dòng)或沖擊測(cè)試的同時(shí)監(jiān)測(cè)其電性能。這項(xiàng)試驗(yàn)?zāi)苣M產(chǎn)品使用過(guò)程中的振動(dòng)、沖擊環(huán)境，有效剔除存在機(jī)械結(jié)構(gòu)不良、瞬時(shí)短路或斷路的元器件，以及整機(jī)中的虛焊等故障。此試驗(yàn)在高可靠繼電器、接插件及軍用電子設(shè)備中非常重要。由于需要專門的試驗(yàn)設(shè)備且費(fèi)用昂貴，一般不用于民用電子產(chǎn)品。

通過(guò)上述篩選項(xiàng)目，可以有效提高電子元器件的可靠性和穩(wěn)定性，確保電子產(chǎn)品在使用過(guò)程中能夠長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。